SWT-NEOⅡ／NEOⅢ デュアルタイプ膜厚計
2023-09-12 16:01:21
admin
SWT-NEOⅡ／NEOⅢ
デュアルタイプ膜厚計
測定用途に合わせ接続プローブの選択が可能。
LCD画面上に操作手順をガイド表示。
大容量の測定値メモリ (NEOⅡ：20,000点、NEOⅢ：40,000点)。
検量線登録による簡単呼び出し測定
上下限値設定、統計演算機能内蔵。
USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。
特定小電力無線出力内蔵 (NEO‐Ⅲ)。
チルトスタンド
測定範囲 接続プローブ (別売) により異なる
表示方式グラフィックLCD
検量線メモリNEO-Ⅱ ： 10本
NEO-Ⅲ ： 100本
測定値メモリNEO-Ⅱ ： 20,000点
NEO-Ⅲ ： 40,000点
データ転送
USB、特定小電力無線 (NEO‐Ⅲ)
電源
単3アルカリ乾電池 (1.5V)×2 連続使用時間（25時間※）
ACアダプタ
オートパワーオフ機能付
※最大（使用条件により変わることがあります。）
使用温度0～40℃ (結露しないこと)
機体サイズ72(W)×30(H)×156(D)mm
重量約200g（電池含む）
