SWT-NEOⅡ/NEOⅢ デュアルタイプ膜厚計
2023-09-12 16:01:21
admin
SWT-NEOⅡ/NEOⅢ
デュアルタイプ膜厚計
測定用途に合わせ接続プローブの選択が可能。
LCD画面上に操作手順をガイド表示。
大容量の測定値メモリ (NEOⅡ:20,000点、NEOⅢ:40,000点)。
検量線登録による簡単呼び出し測定
上下限値設定、統計演算機能内蔵。
USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。
特定小電力無線出力内蔵 (NEO‐Ⅲ)。
チルトスタンド
測定範囲 接続プローブ (別売) により異なる
表示方式グラフィックLCD
検量線メモリNEO-Ⅱ : 10本
NEO-Ⅲ : 100本
測定値メモリNEO-Ⅱ : 20,000点
NEO-Ⅲ : 40,000点
データ転送
USB、特定小電力無線 (NEO‐Ⅲ)
電源
単3アルカリ乾電池 (1.5V)×2 連続使用時間(25時間※)
ACアダプタ
オートパワーオフ機能付
※最大(使用条件により変わることがあります。)
使用温度0~40℃ (結露しないこと)
機体サイズ72(W)×30(H)×156(D)mm
重量約200g(電池含む)