TIME 磁気・渦電流膜厚計TIME 品番TIME2510

TIME

磁気・渦電流膜厚計TIME

品番TIME2510

Fタイプ磁気誘導(鉄)

及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式

ゼロ点校正および二点校正

連続測定と単一測定

直接測定とバッチ測定

平均値(MEAN)、

最大値(MAX)、

最小値 (MIN)、

測定データ数(NO)

および標準偏差(S.DEV)

測定基板の自動認識

仕様最小試験面積直径：

7mm(F)・5mm(N)、

基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N)

寸法(mm)110×50×23

測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)

・0-40um(N・銅上のクローム板)'

質量(g)100電源単4型乾電池2本

(別売)測定方式磁気誘導(F)

・渦電流(N)最小曲げ半径(mm)

凸度1.5(F)・凸度3(N)分解能0.1um

測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)

・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)

・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)

・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) 

Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い

磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40