TIME 磁気・渦電流膜厚計TIME 品番TIME2510E

TIME

磁気・渦電流膜厚計TIME

品番TIME2510E

TIME2510に有線プ

ローブを追加したタイプ

Fタイプ磁気誘導(鉄)

及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式

ゼロ点校正および二点校正

連続測定と単一測定

直接測定とバッチ測定

平均値(MEAN)、最大値(MAX)、

最小値 (MIN)、測定データ数(NO)

および標準偏差(S.DEV)

測定基板の自動認識

仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、

基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N)寸法

(mm)110×50×23測定範囲0-1250um(F)

・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板)

質量(g)100電源単4型乾電池2本(別売)

測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N)最小曲げ半径(mm)

凸度1.5(F)・凸度3(N)分解能0.1um測定誤差±(3%H+1) 

um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um

(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正)

 Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない

動作温度範囲(℃)0-40