TIME超音波厚さ計プローブZW5P品番プローブZW5P高い温度仕様接触面外形：12mm、試験物表面温度範囲：‐10‐300℃測定範囲(mm)4.0 - 80.0(鋼)周波数(MHz)5
2023-11-17 admin
TIME超音波厚さ計プローブTSTU32品番プローブTSTU32高浸透性仕様接触面外形：22mm、試験物表面温度範囲：‐10‐60℃測定範囲(mm)5.0 - 40.0(鋳鉄)周波数(MHz)2
2023-11-17 admin
TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF400品番プローブF400仕様最小曲率：凸面1mm、最小領域：Φ3mm、基盤の臨界厚さ：0.2mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板)測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1〜3)H%+0.7]um(2点校正)
2023-11-17 admin
TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF10品番プローブF10仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm測定方式磁気誘導分解能10um測定範囲(μm)0-10000測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1〜3)H%+10]um(2点校正)
2023-11-17 admin
TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF1品番プローブF1仕様最小曲率：1.5mm、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1〜3)H%+1]um(2点校正)
2023-11-17 admin
TIME磁気・渦電流膜厚計プローブCN02品番プローブCN02仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：無制限測定方式渦電流分解能1um測定範囲(μm)0-200測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)
2023-11-17 admin
